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薄膜薄片厚度測(cè)定儀適用于:塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。注:產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更,恕不另行通知,SYSTESTER 思克保留修改權(quán)與最終解釋權(quán)!
高精度薄膜厚度測(cè)試儀適用于:塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。注:產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更,恕不另行通知,SYSTESTER 思克保留修改權(quán)與最終解釋權(quán)!
接觸式原理厚度測(cè)試儀適用于:塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。注:產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更,恕不另行通知,SYSTESTER 思克保留修改權(quán)與最終解釋權(quán)!
GB6672機(jī)械接觸式測(cè)厚儀適用于:塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。注:產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更,恕不另行通知,SYSTESTER 思克保留修改權(quán)與最終解釋權(quán)!